Поисковый запрос: (<.>R=47.01.81$<.>) |
Общее количество найденных документов : 60
Показаны документы с 1 по 30 |
|
1. 
| Ар07-996
Ямилова, Л. С.
Определение краевых условий механических и электронных систем [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.18 / Л. С. Ямилова. - Стерлитамак, 2006. - 17 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-17(12 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
2.
| Ар10-2652
Юдин, В. В.
Методы и устройства измерения теплоэлектрических параметров полупроводниковых изделий с применением импульсной модуляции электрической мощности [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01 / В. В. Юдин. - Ульяновск, 2009. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-23 (27 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
3.
| Ар13-2508
Шабельникова, Я. Л.
Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07, 05.27.01 / Я. Л. Шабельникова. - М., 2013. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 24-26 (15 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые приборы -- микроэлектроника -- дефектоскопия
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
4.
| АР97-0222
Чекмарев, А. Н.
Разработка научно-технических основ управления качеством изготовления радиоэлектронных средств [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 08.00.20 / А. Н. Чекмарев. - Самара, 1997. - 32 с. : ил.
Библиогр.:с. 28-32(54 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
5.
| Ар04-10552
Цырлов, А. М.
Метод диагностирования БМК по температурным режимам [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / А. М. Цырлов. - Орел, 2004. - 18 с. : ил.
Библиогр.: с. 18(14 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
6.
| Ар14-6323
Фролов, И. В.
Средства измерения малосигнальных и шумовых параметров светоизлучающих диодов для целей диагностики их качества [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01 / И. В. Фролов. - Ульяновск, 2014. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-23 (27 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные):
светодиоды -- параметры -- измерение -- качество
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
7.
| АР98-2844
Федоров, И. В.
Разработка и исследование метода интерферометрического контроля микрокомпонентов радиоэлектронной аппаратуры [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.12.13 / И. В. Федоров. - СПб., 1997. - 21 с.
Библиогр.:с. 21 (6 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
8.
| АР98-2577
Уваров, Е. И.
Разработка неразрушающих автоматизированных методов исследования полупроводников и полупроводниковых структур [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 01.04.10 / Е. И. Уваров. - Новосибирск, 1997. - 15 с.
Библиогр.:с. 14-15 (21 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
9.
| АР00-5759
Увайсов, С. У.
Методы диагностирования радиоэлектронных устройств систем управления на протяжении их жизненного цикла [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.13.05 / С. У. Увайсов. - М., 2000. - 46 с. : ил.
Библиогр.:с. 42-46 (70 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
10.
| Ар05-7456
Терещенко, Е. Ю.
Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / Е. Ю. Терещенко. - М., 2005. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-23.
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
11.
| Ар14-10770
Тарасов, И. А.
Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / И. А. Тарасов. - Красноярск, 2014. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-19. - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные):
пленочная наноэлектроника -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
12.
| Ар06-11805
Сухов, А. В.
Оперативный диагностический контроль и мониторинг технического состояния силовых полупроводниковых приборов в преобразовательных агрегатах [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / А. В. Сухов. - М., 2006. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 18(6 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
13.
| Ар05-7400
Сулейманов, С. П.
Метод и средства теплового диагностирования радиотехнических устройств [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.04 / С. П. Сулейманов. - М., 2005. - 20 c. : ил. - Библиогр.: с. 19-20(19 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
14.
| АР94-709
Суворов, А. Ю.
Исследование интерференционных эффектов при брэгговской дифракции пространственно промодулированной рентгеновской волны [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / А. Ю. Суворов. - Черноголовка, 1993. - 18 с. : ил
В надзаг.: РОс.АН,Ин-т пробл.технологии микроэлектроники и особочистых материалов. Библиогр.: с.18(6 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
15.
| Ар04-5190
Стрижков, С. А.
Статистический контроль и управление качеством технологических процессов изготовления интегральных микросхем при мелкосерийном и прерывистом производстве [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.02.23 / С. А. Стрижков. - М., 2003. - 26 с. : ил.
Библиогр.: с. 25-26 (6 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
16.
| АР00-сф69
Стафеев, С. К.
Комплекс методов и средств оптического неразрушающего контроля материалов микроэлектроники [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:05.11.07 / С. К. Стафеев. - СПб, 1999. - 38 с. : ил.
В надзаг. :С.-Петерб. гос. ин-т точной механики и оптики (техн.ун-т). Библиогр.:с. 35-38(45 назв.)
Экземпляры всего 1: сф (1)
Свободны: сф (1)
Найти похожие
|
17.
| Ар14-4232
Смирнов, Д. Ю.
Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов. - Воронеж, 2014. - 43 с. : ил. - Библиогр.: с. 36-43 (60 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые приборы -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
18.
| Ар12-3900
Смирнов, Д. Ю.
Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов. - Воронеж, 2012. - 42 с. : ил. - Библиогр.: с. 36-42 (55 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые приборы -- технический контроль -- разбраковка -- шумовые параметры
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
19.
| АР02-6309
Скобелева, С. Н.
Исследование возможности повышения качественных характеристик радиоприемных устройств ультракороткого диапазона (на примере Самарской области) [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.12.13 / С. Н. Скобелева. - Тольятти, 2001. - 21 с. : ил.
В надзаг.: Поволжский технол. ин-т сервиса. Библиогр.: с. 20-21(16 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
20.
| Ар11-20957
Святых, А. Б.
Контроль технического состояния жидкой изоляции маслонаполненного высоковольтного электрооборудования [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.09.02 / А. Б. Святых. - М., 2011. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-20 (30 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
электрооборудование высокого напряжения -- изоляция жидкая -- техническая диагностика
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
21.
| Ар03-9392
Савин, В. О.
Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / В. О. Савин. - М., 2002. - 15 с. : ил.
Библиогр.: с. 13-15 (12 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
22.
| АР94-696
Рафиков, Р. А.
Моделирование электрических режимов и разработка устройств для испытаний и тренировок электронных приборов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.02 / Р. А. Рафиков. - Рязань, 1993. - 16 с.
В надзаг.: Рязан.гос.радиотехн.акад. Библиогр.: с.15-16 (12 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
23.
| Ар11-16028
Пщелко, Н. С.
Электрофизические методы неразрушающего контроля и формирования металлодиэлектрических структур [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.13, 05.27.06 / Н. С. Пщелко. - СПб., 2011. - 40 с. : ил. - Библиогр.: с. 37-40 (50 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
металлодиэлектрические структуры -- неразрушающий контроль -- электрическое поле -- электретные микрофоны -- электропневматические преобразователи -- датчики давления -- электроадгезионные технологии
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
24.
| Ар14-5446
Поляков, С. Л.
Методы и средства повышения качества и конкурентоспособности продукции на базе внедрения технологических инноваций [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.02.23 / С. Л. Поляков. - Курск, 2014. - 20 с. - Библиогр.: с. 19-20. - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные):
электронные приборы -- качество -- конкурентоспособность
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
25.
| Ар04-12295
Поздняков, В. А.
Исследование возможности повышения чувствительности метода СВЧ-магнитосопротивления к изменению подвижности электронов в полупроводниковых структурах с использованием синхронизированного СВЧ-генератора на диоде Ганна [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.03, 05.27.01 / В. А. Поздняков. - Саратов, 2004. - 15 с. : ил. - Библиогр.: с. 14-15(9 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
26.
| Ар11-13635
Подкопаев, Б. П.
Функциональное диагностирование конечномерных динамических систем [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.12.14 / Б. П. Подкопаев. - СПб., 2011. - 34 с. : ил. - Библиогр.: с. 31-34 (43 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
радиолокационные системы -- радионавигационные системы -- функциональное диагностирование
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
27.
| АР94-3196
Острова, С. О.
Метод и приборы электрофлуктуационного неразрушающего контроля качества и надежности электронных элементов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.13.05 / С. О. Острова. - Казань, 1994. - 34 с
В надзаг.: Казан. гос. техн. ун-т им. А.Н.Туполева. Библиогр.:с.29-34 (53 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
28.
| Ар12-18732
Орликовский, Н. А.
Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.27.01 / Н. А. Орликовский. - М., 2012. - 25 с. : ил. - Библиогр.: с. 25 (16 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронные приборы -- наноэлектронные приборы -- дефектоскопия
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
29.
| Ар12-10485
Орешков, М. В.
Разработка измерительного комплекса для контроля и использования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.10 / М. В. Орешков. - М., 2012. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-19
Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы большие -- производство -- технический контроль -- измерительный комплекс
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
30.
| АР97-1056
Никитин, К. К.
Развитие теории и совершенствование методов ключевого усиления и улучшение энергетических характеристик и показателей качества мощных радиотехнических устройств с импульсной модуляцией [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.12.17 / К. К. Никитин. - СПб, 1997. - 31 с. : ил.
Библиогр.:с. 27-31(67 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных