Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=47.01.81$<.>)
Общее количество найденных документов : 60
Показаны документы с 1 по 30
 1-30    31-60   61-60 
1.
Юдин В.В. Методы и устройства измерения теплоэлектрических параметров полупроводниковых изделий с применением импульсной модуляции электрической мощности/В. В. Юдин. - 2009
2.
Мирвода Д.В. Диагностика состояния линейных трактов радиотехнических систем без их отключения из рабочего режима/Д. В. Мирвода. - 2009
3.
Дулов О.А. Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества/О. А. Дулов. - 2008
4.
Вареник Ю.А. Средства измерения вольт-фарадных характеристик полупроводниковых структур/Ю. А. Вареник. - 2010
5.
Подкопаев Б.П. Функциональное диагностирование конечномерных динамических систем/Б. П. Подкопаев. - 2011
6.
Пщелко Н.С. Электрофизические методы неразрушающего контроля и формирования металлодиэлектрических структур/Н. С. Пщелко. - 2011
7.
Нгуайя М.Л. Расчетные методы контроля слоистых материалов и изделий на основе исследований коэффициентов отражения и прохождения электромагнитных волн/М. Л. Нгуайя. - 2011
8.
Литвинов Б.Я. Методы и средства передачи размера единицы электрического сопротивления и контроля изделий электронной техники/Б. Я. Литвинов. - 2007
9.
Горбунов А.А. Управление качеством целевого функционирования производственно-технологических комплексов по изготовлению радиоэлектронных средств/А. А. Горбунов. - 2006
10.
Зобенко А.А. Методическое, алгоритмическое и программное обеспечение контроля технического состояния электромеханических и электронных силовых устройств с общей сетью питания/А. А. Зобенко. - 2005
11.
Терещенко Е.Ю. Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур/Е. Ю. Терещенко. - 2005
12.
Сухов А.В. Оперативный диагностический контроль и мониторинг технического состояния силовых полупроводниковых приборов в преобразовательных агрегатах/А. В. Сухов. - 2006
13.
Анцыферов Е.С. Системы адаптивного управления качеством радиоэлектронной наукоемкой продукции/Е. С. Анцыферов. - 2006
14.
Ямилова Л.С. Определение краевых условий механических и электронных систем/Л. С. Ямилова. - 2006
15.
Мускатиньев А.А. Стабилизированные формирователи высоковольтных импульсов для аппаратуры измерения параметров силовых полупроводниковых приборов/А. А. Мускатиньев. - 2006
16.
Фролов И.В. Средства измерения малосигнальных и шумовых параметров светоизлучающих диодов для целей диагностики их качества/И. В. Фролов. - 2014
17.
Поляков С.Л. Методы и средства повышения качества и конкурентоспособности продукции на базе внедрения технологических инноваций/С. Л. Поляков. - 2014
18.
Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума/Д. Ю. Смирнов. - 2014
19.
Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов/А. В. Лопин. - 2014
20.
Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста/И. А. Тарасов. - 2014
21.
Йе Тун Тэйн Методы управления режимами диффузионных установок и контроля качества топологий в микро и наноэлектронике/Йе Тун Тэйн. - 2014
22.
Карташов Д.А. Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники/Д. А. Карташов. - 2014
23.
Вальковский Г.А. Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоугольного рентгеновского рассеяния/Г. А. Вальковский. - 2013
24.
Орешков М.В. Разработка измерительного комплекса для контроля и использования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами/М. В. Орешков. - 2012
25.
Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума/Д. Ю. Смирнов. - 2012
26.
Святых А.Б. Контроль технического состояния жидкой изоляции маслонаполненного высоковольтного электрооборудования/А. Б. Святых. - 2011
27.
Орликовский Н.А. Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники/Н. А. Орликовский. - 2012
28.
Курочка А.С. Особенности электронной эмиссии для контроля процесса реактивного ионно-лучевого травления пленочных гетерокомпозиций/А. С. Курочка. - 2013
29.
Шабельникова Я.Л. Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода/Я. Л. Шабельникова. - 2013
30.
Моисеев С.А. Метод прогнозирующего контроля радиоэлектронной аппаратуры с адаптацией межконтрольного интервала/С. А. Моисеев. - 2013
 1-30    31-60   61-60 

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)