Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=47.01.81$<.>)
Общее количество найденных документов : 60
Показаны документы с 1 по 30
 1-30    31-60   61-60 
1.
Ямилова Л.С. Определение краевых условий механических и электронных систем/Л. С. Ямилова. - 2006
2.
Юдин В.В. Методы и устройства измерения теплоэлектрических параметров полупроводниковых изделий с применением импульсной модуляции электрической мощности/В. В. Юдин. - 2009
3.
Шабельникова Я.Л. Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода/Я. Л. Шабельникова. - 2013
4.
Чекмарев А.Н. Разработка научно-технических основ управления качеством изготовления радиоэлектронных средств. - 1997
5.
Цырлов А.М. Метод диагностирования БМК по температурным режимам/А. М. Цырлов. - 2004
6.
Фролов И.В. Средства измерения малосигнальных и шумовых параметров светоизлучающих диодов для целей диагностики их качества/И. В. Фролов. - 2014
7.
Федоров И.В. Разработка и исследование метода интерферометрического контроля микрокомпонентов радиоэлектронной аппаратуры. - 1997
8.
Уваров Е.И. Разработка неразрушающих автоматизированных методов исследования полупроводников и полупроводниковых структур. - 1997
9.
Увайсов С.У. Методы диагностирования радиоэлектронных устройств систем управления на протяжении их жизненного цикла. - 2000
10.
Терещенко Е.Ю. Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур/Е. Ю. Терещенко. - 2005
11.
Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста/И. А. Тарасов. - 2014
12.
Сухов А.В. Оперативный диагностический контроль и мониторинг технического состояния силовых полупроводниковых приборов в преобразовательных агрегатах/А. В. Сухов. - 2006
13.
Сулейманов С.П. Метод и средства теплового диагностирования радиотехнических устройств/С. П. Сулейманов. - 2005
14.
Суворов А.Ю. Исследование интерференционных эффектов при брэгговской дифракции пространственно промодулированной рентгеновской волны. - 1993
15.
Стрижков С.А. Статистический контроль и управление качеством технологических процессов изготовления интегральных микросхем при мелкосерийном и прерывистом производстве. - 2003
16.
Стафеев С.К. Комплекс методов и средств оптического неразрушающего контроля материалов микроэлектроники. - 1999
17.
Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума/Д. Ю. Смирнов. - 2014
18.
Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума/Д. Ю. Смирнов. - 2012
19.
Скобелева С.Н. Исследование возможности повышения качественных характеристик радиоприемных устройств ультракороткого диапазона (на примере Самарской области)/С. Н. Скобелева. - 2001
20.
Святых А.Б. Контроль технического состояния жидкой изоляции маслонаполненного высоковольтного электрооборудования/А. Б. Святых. - 2011
21.
Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии. - 2002
22.
Рафиков Р.А. Моделирование электрических режимов и разработка устройств для испытаний и тренировок электронных приборов. - 1993
23.
Пщелко Н.С. Электрофизические методы неразрушающего контроля и формирования металлодиэлектрических структур/Н. С. Пщелко. - 2011
24.
Поляков С.Л. Методы и средства повышения качества и конкурентоспособности продукции на базе внедрения технологических инноваций/С. Л. Поляков. - 2014
25.
Поздняков В.А. Исследование возможности повышения чувствительности метода СВЧ-магнитосопротивления к изменению подвижности электронов в полупроводниковых структурах с использованием синхронизированного СВЧ-генератора на диоде Ганна/В. А. Поздняков. - 2004
26.
Подкопаев Б.П. Функциональное диагностирование конечномерных динамических систем/Б. П. Подкопаев. - 2011
27.
Острова С.О. Метод и приборы электрофлуктуационного неразрушающего контроля качества и надежности электронных элементов. - 1994
28.
Орликовский Н.А. Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники/Н. А. Орликовский. - 2012
29.
Орешков М.В. Разработка измерительного комплекса для контроля и использования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами/М. В. Орешков. - 2012
30.
Никитин К.К. Развитие теории и совершенствование методов ключевого усиления и улучшение энергетических характеристик и показателей качества мощных радиотехнических устройств с импульсной модуляцией/К. К. Никитин. - 1997
 1-30    31-60   61-60 

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)