Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>) |
Общее количество найденных документов : 50
Показаны документы с 1 по 30 |
|
>1.
| Ар09-442
Шелковников, Е. Ю. Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.16 / Е. Ю. Шелковников. - Ижевск, 2008. - 48 с. : ил. - Библиогр.: с. 44-48(51 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>2.
| АР01-4451
Шелковников, Е. Ю. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / Е. Ю. Шелковников. - Иджевск, 2000. - 20 с. : ил. Библиогр.:с. 18-20(35 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>3.
| Ар07-13877
Швамм, К. Л. Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / К. Л. Швамм. - Екатеринбург, 2007. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-22
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>4.
| Ар08-1027
Чукланов, А. П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.17 / А. П. Чукланов. - Казань, 2007. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24.
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>5.
| Ар05-1788
Тюриков, А. В. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.11.14, 05.11.13 / А. В. Тюриков. - Ижевск, 2004. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-20 (18 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>6.
| АР92-2685
Тавров, А. В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров. - М., 1992. - 17 с. : ил В надзаг.: Иоск.ин-т радиотехники,электроники и автоматики. Библиогр.: с. 16-17(14назв.).
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>7.
| Ар12-13142
Суворов, А. С. Идентификация изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.11.14, 05.11.13 / А. С. Суворов. - Ижевск, 2012. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-23 (21 назв.)
Кл.слова (ненормированные): кластерные материалы -- наночастицы -- топографические изображения -- идентификация -- сканирующий туннельный микроскоп
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>8.
| Ар09-10347
Стрючкова, Ю. М. Наносистема поверхностей сплавов железо-хром-никель и их основных компонентов по IN-SITU измерениям на электрохимическом сканирующем туннельном микроскопе [Текст] : автореф. дис. ... канд. хим. наук : 02.00.05 / Ю. М. Стрючкова. - М., 2009. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24(9 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>9.
| АР91-13832
Стрепетов, А. Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов. - М., 1991. - 29 с. : ил В надзаг.: Ин-т атомной энергии им.И.В.Курчатова. Библиогр.: с. 18-19(10 назв.).
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>10.
| Ар12-19706
Стовпяга, А. В. Технология создания и исследование пьезорезонансных зондовых датчиков для сканирующего зондового микроскопа [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.14 / А. В. Стовпяга. - СПб., 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-22 В надзаг.: С.-Петербург. нац. исслед. ун-т информац. технологий и оптки
Кл.слова (ненормированные): электронные микроскопы -- зондовые датчики
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>11.
| Ар13-3100
Смольянинов, Н. А. Моделирование микроскопических изображений на основе анализа и модификации спектральных характеристик [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.18 / Н. А. Смольянинов. - Владивосток, 2013. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-19 (20 назв.)
Кл.слова (ненормированные): оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- моделирование изображений
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>12.
| Ар12-16376
Семин, С. В. Двухфотонный спектрометр-микроскоп на основе фемтосекундного твердотельного лазера [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07 / С. В. Семин. - М., 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22
Кл.слова (ненормированные): спектрометры-микроскопы -- лабораторный макет -- микроструктуры -- наноструктуры -- оптические свойства
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>13.
| АР00-4961
Рехвиашвили, С. Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили. - Нальчик, 1999. - 19 с. : ил. Библиогр.:с. 15-16(12 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>14.
| Ар05-236
Рехвиашвили, С. Ш. Разработка и анализ зондовых микромеханических устройств [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01 / С. Ш. Рехвиашвили. - Нальчик, 2004. - 32 c. - Библиогр.: с. 29-32 (40 назв.). - 100 экз.
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>15.
| Ар09-6201
Рехвиашвили, С. Ш. Новые аспекты моделирования физических процессов в атомно-силовом микроскопе [Текст] : автореф. дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / С. Ш. Рехвиашвили. - Тольятти, 2009. - 32 с. : ил. - Библиогр.: с. 28-32(50 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>16.
| АР91-16048
Рабинович, В. Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович. - Л., 1991. - 21 с. : ил В надзаг.: Ленингр.ин-т точной механики и оптики(ЛИТМО). Библиогр.: с. 20-21(9 назв.).
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>17.
| Ар10-26785
Пьянков, Е. С. Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабильности для сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Е. С. Пьянков. - М., 2010. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 25-26 (12 назв.)
Кл.слова (ненормированные): сканирующие зондовые микроскопы -- система позиционирования -- точность -- зонд -- температурный дрейф -- специализированные интегральные схемы -- термоконтроллер -- измерительная часть -- калибровка
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>18.
| Ар09-22504
Поляков, В. В. Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп совместимый с базовыми методами нанотехнологий [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.01 / В. В. Поляков. - М., 2009. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 18 (7 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>19.
| АР01-1268
Мурясов, Р. Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов. - М., 2000. - 20 с. : ил. В надзаг. : Рос.АН. Ин-т хим. физики им.Н.Н.Семенова. Библиогр.:с. 20
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>20.
| Ар13-13580
Мещеряков, А. В. Аппаратно-программные модули и методы адаптивного сканирования для быстродействующих систем управления сканирующих зондовых микроскопов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / А. В. Мещеряков. - М., 2013. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 24-26 (20 назв.)
Кл.слова (ненормированные): электронные микроскопы -- системы управления -- скорость сканирования
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>21.
| АР02-8246
Маев, Р. Г. Методы акустической микроскопии в исследовании микроструктуры и физико-химических свойств материалов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук :01.04.01 / Р. Г. Маев. - М., 2002. - 50 с. : ил. В надзаг.: Рос. АН, Ин-т биохим. физики им. Н.М.Эмануэля. Библиогр.: с. 45-50
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>22.
| Ар14-3504
Любин, Е. В. Фотонно-силовая микроскопия магнитных частиц, клеток крови и волноводных мод фотонных кристаллов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.21 / Е. В. Любин. - М., 2014. - 25 с. : ил. - Библиогр.: с. 24-25. - 120 экз.
Кл.слова (ненормированные): фотонно-силовая микроскопия -- оптический пинцет -- микрообъекты -- магнитные частицы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>23.
| АР91-11789
Лобкис, О. И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис. - М., 1991. - 20 с. : ил В надзаг.: МГУ,Физ.фак. Библиогр.: с. 19-20(13назв.).
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>24.
| АР97-2785
Литвинов, В. Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов. - СПб, 1997. - 16 с. : ил. Библиогр.:с. 15-16(15 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>25.
| Ар04-7219
Лапшин, Р. В. Объектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Р. В. Лапшин. - М., 2002. - 34 с. : ил. Библиогр.: с. 33-34
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>26.
| Ар14-2397
Кухтевич, И. В. Исследование и разработка микрофлюидных устройств для анализа биологичеcких объектов методами микроскопии высокого разрешения [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.14 / И. В. Кухтевич. - СПб., 2013. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-20 (21 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные): биологические микрообъекты -- микрофлюидные чипы -- микроскопия высокого разрешения
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>27.
| Ар14-14960
Куля, М. С. Восстановление фазовых характеристик поля и анализ изображения фазового объекта в импульсной терагерцовой голографии с разрешением во времени [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / М. С. Куля. - СПб., 2014. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-19 (14 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные): голография
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>28.
| Ар09-5284
Круглов, Е. В. Микроконтроллерная система управления сканирующим зондовым микроскопом НаноСкан [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / Е. В. Круглов. - М., 2009. - 39 с. : ил. - Библиогр.: с. 39(4 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>29.
| Ар14-14822
Краснобородько, С. Ю. Исследование и разработка комплекса методик для совершенствования функциональных и точностных характеристик атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / С. Ю. Краснобородько. - М., 2014. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-23 (29 назв.). - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные): микроскопы силовые -- кантилеверы -- сверхтонкие пленки
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>30.
| Ар12-19384
Кошев, Н. А. Методы реконструкции спектров и изображений в растровой электронной микроскопии в режиме отраженных электронов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.18 / Н. А. Кошев. - М., 2012. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 19 (4 назв.)
Кл.слова (ненормированные): растровые электронные микроскопы -- реконструкция сигнала -- режим обратно рассеянных электронов -- искажение сигнала
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|