Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)
Общее количество найденных документов : 50
Показаны документы с 1 по 30
 1-30    31-50 
1.
Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия. - 1991
2.
Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе. - 1991
3.
Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе. - 1991
4.
Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов. - 1991
5.
Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе. - 1992
6.
Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений. - 1992
7.
Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе. - 1996
8.
Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии. - 1997
9.
Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе. - 1999
10.
Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии/О. М. Горбенко. - 2000
11.
Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ. - 2000
12.
Шелковников Е.Ю. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов. - 2000
13.
Маев Р.Г. Методы акустической микроскопии в исследовании микроструктуры и физико-химических свойств материалов. - 2002
14.
Гуляев П.В. Разработка и исследование пьезоэлектрических устройств и методов управления ими в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов. - 2003
15.
Лапшин Р.В. Объектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии/Р. В. Лапшин. - 2002
16.
Рехвиашвили С.Ш. Разработка и анализ зондовых микромеханических устройств/С. Ш. Рехвиашвили. - 2004
17.
Тюриков А.В. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов/А. В. Тюриков. - 2004
18.
Кизнерцев С.Р. Разработка и исследование технологического и аппаратурного обеспечения сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов/С. Р. Кизнерцев. - 2004
19.
Волков Ю.П. Морфофункциональная информационно-измерительная система сканирующей зондовой микроскопии атомарного разрешения (туннельной, атомно-силовой, оптической ближнего поля)/Ю. П. Волков. - 2004
20.
Иванников П.В. Новые методы исследования люминесцирующих материалов в растровой электронной микроскопии/П. В. Иванников. - 2006
21.
Грибков Б.А. Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости и магнитных наноструктур/Б. А. Грибков. - 2006
22.
Гудцов Д.В. Разработка и исследование интеллектуального цифрового туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов/Д. В. Гудцов. - 2006
23.
Галимуллин Д.З. Разделение сложных сигналов с помощью вейвлет-производной спектрометрии и биспектрального анализа/Д. З. Галимуллин. - 2006
24.
Арсеев П.И. Эффекты электрон-электронного и электрон-фононного взаимодействия в туннельных системах/П. И. Арсеев. - 2007
25.
Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов/Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг. - 2007
26.
Швамм К.Л. Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов/К. Л. Швамм. - 2007
27.
Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии/А. П. Чукланов. - 2007
28.
Алексейчук А.В. Исследование процесса изготовления кантилевера с улучшенными характеристиками для сканирующей зондовой микроскопии/А. В. Алексейчук. - 2007
29.
Голубев С.С. Разработка и исследование методов и средств метрологического обслуживания сканирующих зондовых микроскопов/С. С. Голубев. - 2008
30.
Шелковников Е.Ю. Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом/Е. Ю. Шелковников. - 2008
 1-30    31-50 
 
Описание базы данных
Стандартный
Расширенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)