Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрия<.>)
Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9
1.
Пшеницын В.И. Эллипсометрия модифицированных поверхностных слоев и шероховатых поверхностей оптических материалов. - 1994
2.
Храмцовский И.А. Эллипсометрия неоднородных слоев и шероховатых поверхностей оптических элементов. - 1998
3.
Новиков А.А. Эллипсометрия поверхностных слоев элементов оптоэлектроники, модифицированных ионными и электронными пучками/А. А. Новиков. - 2008
4.
Свиташева С.Н. Эллипсометрия шероховатых поверхностей /С. Н. Свиташева. - 2009
5.
Швец В.А. Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Cd1 - HgxTe/В. А. Швец. - 2010
6.
Хасанов Т. Поляриметрия и эллипсометрия в исследовании поляризующих оптических систем/Т. Хасанов. - 2010
7.
Ломакин А.Г. Измерение поляризационных характеристик оптического излучения методом цифровой дифференциальной поляриметрии/А. Г. Ломакин. - 2011
8.
Ковалев В.И. Методы и приборы лазерной и спектральной эллипсометрии с бинарной модуляцией состояния поляризации/В. И. Ковалев. - 2011
9.
Али Мохаммед Холоэллипсометры - средства мониторинга в реальном времени поверхности анизотропных нанокристаллов в квазинормально рассеянном и отраженном свете/М. Али. - 2013

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)