Поисковый запрос: (<.>K=технический контроль<.>) |
Общее количество найденных документов : 42
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1. 
| Ар13-11304
Редько, В. В.
Разработка методов и средств электроискрового технологического контроля изоляции кабельных изделий [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.13 / В. В. Редько. - Томск, 2013. - 38 с. : ил. - Библиогр.: с. 37-38 (24 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
кабельные изделия -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
2.
| Ар13-11113
Антонова, Е. А.
Влияние рентгеновского излучения на параметры полупроводниковых изделий [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Е. А. Антонова. - Воронеж, 2013. - 17 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-17 (25 назхв.)
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые приборы -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
3.
| Ар13-13079
Номан Мустафа Абдулла Али
Мониторинг конструкторско-технологических параметров полупроводниковых гетероструктур с использованием цифровой обработки изображений их поверхности [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.04 / Номан Мустафа Абдулла Али. - Владимир, 2013. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-19 (11 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые гетероструктуры -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
4.
| Ар13-14497
Цельмина, И. Ю.
Оптические методы и приборы контроля подложек лазерных зеркал [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.05 / И. Ю. Цельмина. - М., 2013. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-23 (10 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
лазеры -- оптические системы -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
5.
| Ар13-13623
Щаников, С. А.
Алгоритмы определения допусков и обеспечения точности работы нейросетевых компонентов промышленных систем технического контроля [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.01 / С. А. Щаников. - Муром, 2013. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-19
Кл.слова (ненормированные):
технический контроль -- автоматизация -- промышленные системы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
6.
| Ар13-4703
Липкин, С. М.
Методы и устройства определения массовых долей компонентов сплава для систем управления качеством металлопродукции [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / С. М. Липкин. - Новочеркасск, 2013. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 16-19 (28 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
металлические сплавы -- химический состав -- определение -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
7.
| Ар12-21174
Гришина, Т. Г.
Разработка многоуровневых систем управления автоматизированным машиностроительным производством с целью повышения качества технологических процессов [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.13.06 / Т. Г. Гришина. - М., 2012. - 31 с. - Библиогр.: с. 30-31 (18 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
машиностроительное производство -- технологические процессы -- жизненный цикл продукции -- качество продукции -- технический контроль -- автоматизация
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
8.
| Ар13-5226
Курочка, А. С.
Особенности электронной эмиссии для контроля процесса реактивного ионно-лучевого травления пленочных гетерокомпозиций [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.06 / А. С. Курочка. - М., 2013. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24 (16 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
мдп-структуры -- травление -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
9.
| Ар13-9951
Вашуркина, Е. С.
Многоэлементные электроемкостные преобразователи для систем управления в нефтедобыче [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / Е. С. Вашуркина. - Самара, 2013. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-16 (18 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
нефтедобыча -- технический контроль -- поточная влагометрия
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
10.
| Ар13-8862
Куценко, Д. О.
Вихретоковый контроль качества сверхпроводящей проволоки [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / Д. О. Куценко. - М., 2013. - 13 с. : ил. - Библиогр.: с. 13 (8 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
проволока сверхпроводящая -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
11.
| Ар13-14973
Хоанг Минь Шон
Контроль технического состояния конструкций корпуса судна на основе оценки риска [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.08.04 / Хоанг Минь Шон. - Астрахань, 2013. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 19 (8 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
судовые корпуса -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
12.
| Ар14-10770
Тарасов, И. А.
Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / И. А. Тарасов. - Красноярск, 2014. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-19. - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные):
пленочная наноэлектроника -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
13.
| Ар14-10226
Йе Тун Тэйн
Методы управления режимами диффузионных установок и контроля качества топологий в микро и наноэлектронике [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.06 / Йе Тун Тэйн. - М., 2014. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-23 (14 назв.). - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронные приборы -- наноэлектронные устройства -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
14.
| Ар12-31798
Лузгин, В. В.
Методы и алгоритмы идентификации и диагностирования аналоговых промышленных объектов [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.13.06 / В. В. Лузгин. - Иркутск, 2012. - 44 с. : ил. - Библиогр.: с. 39-44 (52 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные):
технический контроль -- САУ -- автоматическое управление
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
15.
| Ар15-7307
Лоханев, П. И.
Разработка моделей автоматизированного внутреннего контроля на производственных предприятиях [Текст] : автореф. дис. ... канд. экон. наук : 08.00.13 / П. И. Лоханев. - М., 2015. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 25-26 (7 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные):
технический контроль -- автоматизация -- производственные циклы
Экземпляры всего 1: хр (1)
Свободны: хр (1)
Найти похожие
|
16.
| Ар14-32609
Чехов, А. П.
Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.16 / А. П. Чехов. - Рязань, 2014. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-20 (18 назв.). - 150 экз.
Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектронная аппаратура -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
17.
| Ар14-4232
Смирнов, Д. Ю.
Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов. - Воронеж, 2014. - 43 с. : ил. - Библиогр.: с. 36-43 (60 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые приборы -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
18.
| Ар14-1363
Савина, А. Ю.
Усовершенствование системы оптического мониторинга электроизоляционных масел [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.09.02 / А. Ю. Савина. - СПб., 2013. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-16 (17 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные):
электроизоляционные масла -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
19.
| Ар13-31790
Ляхманов, Д. А.
Прогнозирование состояний технических объектов на основе спектрального анализа [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.01 / Д. А. Ляхманов. - Н. Новгород, 2013. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-21 (15 назв.). - Тираж не указ.
Кл.слова (ненормированные):
технический контроль -- мониторинг -- обнаружение отказов
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
20.
| Ар14-7265
Карташов, Д. А.
Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / Д. А. Карташов. - М., 2014. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-26. - 18 экз.
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронные приборы -- наноэлектроника -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных