Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>) |
Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 19 |
1. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар10-26438
Автор(ы) : Волкова М.А.
Заглавие : Разработка объективных методов контроля качества изображения в микроскопе
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07
Выходные данные : СПб., 2010 Колич.характеристики :18 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 17-18 (12 назв.). - В надзаг.: С.-Петербург. гос. ун-т информ. технологий, механки и оптики
ГРНТИ : 29.31.29 УДК : 681.723.013.8(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--качество изображения--автоматизированное рабочее место--светодиоды--осветительные устройства--световые микроскопы
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
2. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар10-26785
Автор(ы) : Пьянков Е.С.
Заглавие : Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабильности для сканирующей зондовой микроскопии
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01
Выходные данные : М., 2010 Колич.характеристики :26 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 25-26 (12 назв.)
ГРНТИ : 29.35.43 УДК : 621.385.833.2(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующие зондовые микроскопы--система позиционирования--точность--зонд--температурный дрейф--специализированные интегральные схемы--термоконтроллер--измерительная часть--калибровка
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
3. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-3038
Автор(ы) : Шарипов Т.И.
Заглавие : Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02
Выходные данные : Саратов, 2011 Колич.характеристики :22 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 19-22 (20 назв.)
ГРНТИ : 34.05.25 УДК : 578.08.002.5(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): молекулярная биология--биосенсоры--сканирующие зондовые микроскопы--днк-чипы--олигонуклеотиды
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
4. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-4881
Автор(ы) : Номера Мохамед Абас Хадия
Заглавие : Получение и исследование оптических свойств нитевидных полупроводниковых оксидов SnO2 и In2O3
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10
Выходные данные : Воронеж, 2011 Колич.характеристики :16 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 14-16 (17 назв.)
ГРНТИ : 29.19.31 УДК : 537.311.322(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые нанонити--нитевидные гетероструктры--газотранспортный синтез--морфология--просвечивающие электронные микроскопы
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
5. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-15684
Автор(ы) : Сенин В.В.
Заглавие : Взаимосвязь электромагнитных свойств, субмикроструктуры и дефектности лантан-стронциевых манганитов с замещением марганца хромом
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07
Выходные данные : Астрахань, 2011 Колич.характеристики :21 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 20-21
ГРНТИ : 31.17.15 УДК : 546.714-383(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): перовскитоподобные манганиты--физические свойства--магнитосопротивление--рентгеноструктурный анализ--растровые электронные микроскопы
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
6. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-17083
Автор(ы) : Шаронов В.А.
Заглавие : Взаимодействие электронных и механических зондов с рельефной поверхностью в нанометровом диапазоне
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04
Выходные данные : Долгопрудный, 2011 Колич.характеристики :21 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 20-21. - В надзаг.: Моск. физико-техн. ин-т (гос. ун-т)
ГРНТИ : 47.13.11 УДК : 621.38-022.532(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноэлектроника--нанотехнологии--твердые тела--нанорельеф поверхности--геометрические параметры--электронные зонды--механические зонды--растровые электронные микроскопы--атомно-силовые микроскопы
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
7. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-18273
Автор(ы) : Кузнецов М.М.
Заглавие : Совершенствование оптических методов псевдоцветового кодирования изображений для фотометрических измерений
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.05
Выходные данные : Новосибирск, 2011 Колич.характеристики :16 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 15-16 (16 назв.)
ГРНТИ : 29.31.29 УДК : 681.78(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оптические измерения--микроскопические объекты--интерферометры--фазово-контрастные микроскопы--информативность--изображения--псевдоцветовое кодирование--видеокамеры
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
8. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : АР10-29894
Автор(ы) : Тихоглаз Ю.С.
Заглавие : Математические модели и алгоритмы функционирования систем распознавания в сканирующей зондовой микроскопии
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.01
Выходные данные : М., 2010 Колич.характеристики :23 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 20-23 (19 назв.). - В надзаг.: Моск. гос. ин-т электроники и математики (техн. ун-т)
ГРНТИ : 47.13.11 УДК : 621.3.049.76-047.84(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные приборы--микроминиатюризация--технический контроль--электронные микроскопы--системы распознавания
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
9. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-19927
Автор(ы) : Тюнькин И.В.
Заглавие : Влияние малой предварительной ориентации на механизм деформирования полимеров и композитов
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 02.00.06
Выходные данные : М., 2011 Колич.характеристики :26 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 26 (10 назв.)
ГРНТИ : 31.25.15 + 55.09.43 УДК : 678.01:539.37(043) + 620.22-419.8:539.3(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): хрупкость--разрушение--деформационные кривые--наполнители--растровые электронные микроскопы
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
10. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-23490
Автор(ы) : Полищук Г.С.
Заглавие : Оптические системы микроскопов контроля поверхностных фотолитографических дефектов
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07
Выходные данные : СПб., 2011 Колич.характеристики :21 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 21 (5 назв.). - В надзаг.:С.-Петербург. исслед. ун-т информац. технологий, механики и оптики
ГРНТИ : 47.13.35 УДК : 621.3.049.77-047.84:776(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): фотолитография--микроскопы--оптические системы
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
11. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар12-16376
Автор(ы) : Семин С.В.
Заглавие : Двухфотонный спектрометр-микроскоп на основе фемтосекундного твердотельного лазера
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07
Выходные данные : М., 2012 Колич.характеристики :22 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 21-22
ГРНТИ : 29.31.29 + 29.35.43 УДК : 681.785.235(043) + 621.385.833.2(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): спектрометры-микроскопы--лабораторный макет--микроструктуры--наноструктуры--оптические свойства
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
12. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар12-19384
Автор(ы) : Кошев Н.А.
Заглавие : Методы реконструкции спектров и изображений в растровой электронной микроскопии в режиме отраженных электронов
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.18
Выходные данные : М., 2012 Колич.характеристики :19 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 19 (4 назв.)
ГРНТИ : 29.35.43 УДК : 621.385.833.2(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): растровые электронные микроскопы--реконструкция сигнала--режим обратно рассеянных электронов--искажение сигнала
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
13. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар12-19706
Автор(ы) : Стовпяга А.В.
Заглавие : Технология создания и исследование пьезорезонансных зондовых датчиков для сканирующего зондового микроскопа
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.14
Выходные данные : СПб., 2012 Колич.характеристики :22 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 20-22. - В надзаг.: С.-Петербург. нац. исслед. ун-т информац. технологий и оптки
ГРНТИ : 29.35.43 УДК : 621.385.833.2(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные микроскопы--зондовые датчики
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
14. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар13-13580
Автор(ы) : Мещеряков А.В.
Заглавие : Аппаратно-программные модули и методы адаптивного сканирования для быстродействующих систем управления сканирующих зондовых микроскопов
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05
Выходные данные : М., 2013 Колич.характеристики :26 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 24-26 (20 назв.)
ГРНТИ : 29.35.43 УДК : 621.385.833.2-52(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные микроскопы--системы управления--скорость сканирования
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
15. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар13-14814
Автор(ы) : Зуйков А.А.
Заглавие : Повышение точности координатных измерений геометрических параметров объектов в компьютерной микроскопии с дополнительным телом в зоне измерения
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.16
Выходные данные : М., 2013 Колич.характеристики :20 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 19-20 (7 назв.)
ГРНТИ : 29.31.29 УДК : 531.713.8.088.3(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): измерительные микроскопы--точность
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
16. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар13-16845
Автор(ы) : Латонов И.В.
Заглавие : Повышение точности трехкоординатных измерений геометрических параметров изделий в компьютерной микроскопии методами продольной фокусировки и триангуляции
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.16
Выходные данные : М., 2013 Колич.характеристики :23 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 22-23 (8 назв.)
ГРНТИ : 29.31.29 УДК : 531.713.8.088.3(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы измерительные--точность измерений
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
17. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар14-10604
Автор(ы) : Соколенко Б.В.
Заглавие : Эволюция поляризационных сингулярностей в параксиальных пучках, распространяющихся ортогонально оптической оси одноосного кристалла
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.05
Выходные данные : Симферополь, 2014 Колич.характеристики :20 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 19-20
ГРНТИ : 29.31.29 УДК : 681.723(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оптические вихревые сканирующие микроскопы
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
18. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар14-14822
Автор(ы) : Краснобородько С.Ю.
Заглавие : Исследование и разработка комплекса методик для совершенствования функциональных и точностных характеристик атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13
Выходные данные : М., 2014 Колич.характеристики :23 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 20-23 (29 назв.)
ГРНТИ : 29.35.43 УДК : 621.385.833.2-272.377(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы силовые--кантилеверы--сверхтонкие пленки
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
19. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар15-4635
Автор(ы) : Маловичко И.М.
Заглавие : Нерезонансные прерывисто-контактные методы атомно-силовой микроскопии
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : М., 2015 Колич.характеристики :24 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 22-24
ГРНТИ : 31.19.03 УДК : 543.456(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): поверхность--исследования--пространственное разрешение--атомно-силовые микроскопы
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
|
|