Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 19
1.
Волкова М.А. Разработка объективных методов контроля качества изображения в микроскопе/М. А. Волкова. - 2010
2.
Пьянков Е.С. Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабильности для сканирующей зондовой микроскопии/Е. С. Пьянков. - 2010
3.
Шарипов Т.И. Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости/Т. И. Шарипов. - 2011
4.
Номера Мохамед Абас Хадия Получение и исследование оптических свойств нитевидных полупроводниковых оксидов SnO2 и In2O3/Н. М.А. Хадия. - 2011
5.
Сенин В.В. Взаимосвязь электромагнитных свойств, субмикроструктуры и дефектности лантан-стронциевых манганитов с замещением марганца хромом/В. В. Сенин. - 2011
6.
Шаронов В.А. Взаимодействие электронных и механических зондов с рельефной поверхностью в нанометровом диапазоне/В. А. Шаронов. - 2011
7.
Кузнецов М.М. Совершенствование оптических методов псевдоцветового кодирования изображений для фотометрических измерений/М. М. Кузнецов. - 2011
8.
Тихоглаз Ю.С. Математические модели и алгоритмы функционирования систем распознавания в сканирующей зондовой микроскопии/Ю. С. Тихоглаз. - 2010
9.
Тюнькин И.В. Влияние малой предварительной ориентации на механизм деформирования полимеров и композитов/И. В. Тюнькин. - 2011
10.
Полищук Г.С. Оптические системы микроскопов контроля поверхностных фотолитографических дефектов/Г. С. Полищук. - 2011
11.
Семин С.В. Двухфотонный спектрометр-микроскоп на основе фемтосекундного твердотельного лазера/С. В. Семин. - 2012
12.
Кошев Н.А. Методы реконструкции спектров и изображений в растровой электронной микроскопии в режиме отраженных электронов/Н. А. Кошев. - 2012
13.
Стовпяга А.В. Технология создания и исследование пьезорезонансных зондовых датчиков для сканирующего зондового микроскопа/А. В. Стовпяга. - 2012
14.
Мещеряков А.В. Аппаратно-программные модули и методы адаптивного сканирования для быстродействующих систем управления сканирующих зондовых микроскопов/А. В. Мещеряков. - 2013
15.
Зуйков А.А. Повышение точности координатных измерений геометрических параметров объектов в компьютерной микроскопии с дополнительным телом в зоне измерения/А. А. Зуйков. - 2013
16.
Латонов И.В. Повышение точности трехкоординатных измерений геометрических параметров изделий в компьютерной микроскопии методами продольной фокусировки и триангуляции/И. В. Латонов. - 2013
17.
Соколенко Б.В. Эволюция поляризационных сингулярностей в параксиальных пучках, распространяющихся ортогонально оптической оси одноосного кристалла/Б. В. Соколенко. - 2014
18.
Краснобородько С.Ю. Исследование и разработка комплекса методик для совершенствования функциональных и точностных характеристик атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии/С. Ю. Краснобородько. - 2014
19.
Маловичко И.М. Нерезонансные прерывисто-контактные методы атомно-силовой микроскопии/И. М. Маловичко. - 2015
 
Описание базы данных
Стандартный
Расширенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)