|
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания :
Автор(ы) : Walkosz W.
Заглавие : Atomic scale characterization and first-principles studies of si₃n₄ interfaces [Electronic resource]
Выходные данные : New York, NY : Springer Science+Business Media LLC, 2011
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: Springer theses
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-1-4419-7817-2: Б.ц.
Предметные рубрики: Microreactors
Chemistry, physical organic
Materials
Materials science
Ceramics, glass, composites, natural methods
Spectroscopy and microscopy
Physical chemistry
Structural materials
Atomic/Molecular structure and spectra
Microengineering
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
|
|