Вид документа : Журнал Шифр издания : W4251 Заглавие : Microelectronics Journal Выходные данные : Amsterdam: Elsevier Science Publishers, 1978 Примечания : nefc ISSN: 00262692 ГРНТИ : 47.13.11 + 47.09.48 + 47.33.31 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--наноэлектроника--производство полупроводниковых компонентов--нанокомпоненты--встроенное самотестировани Аннотация: Статьи и обзоры, отражающие новые идеи, исследования и проекты разработок, современные технологии (в т.ч. микро- и нанотехнологии) и тенденции их развития в области производства полупроводниковых компонентов и нанокомпонентов микроэлектронных устройств, нейронных сетей, а также их оценку и применение: методы проектирования аналоговых, цифровых, смешанных и радиочастотных схем; синтез на логическом, архитектурном и системном уровне; тестирование, проектирование тестопригодности, встроенное самотестирование; встроенные системы; проектирование и тестирование высокоплотной компоновки (3D и др.); проектирование и тестирование SoC (система-на-чипе), NoC(сеть-на-чипе), SIP(система-в-пакете), NIP (сеть-в-пакете); новые устройства, напр., FinFETs (полевые транзисторы "плавникового" типа), одноэлектронные транзисторы (SETs) и др.; различные аспекты применения (обработка сигналов и изображений, в т.ч. интегральные схемы для криптографии; проектирование сенсоров и актуаторов, в т.ч. сенсорных сетей; качество и надежность; экономические модели. Отдельные темы более подробно представлены в специальных выпусках. . 20131217 Зарегистрированы поступления : 1996г. Vol.27; N :1-8; 1995г. Vol.26; N :1-8; 1994г. Vol.25; N :1-8; 1993г. Vol.24; N :1-8; 1992г. Vol.23; N :1-8 Издание можно найти в: ЧЗ/ХР; ИНТЕХ; См. : journal link (full text - НТО-3)