Вид документа : Шифр издания : V4699 Заглавие : Journal of Electronic Testing Выходные данные : Dordrecht : Springer Netherlands, 1990 ISSN: 09238174 ГРНТИ : 47.13 + 50.43 Аннотация: Статьи, обзоры и материалы конференций по результатам теоретических и прикладных исследований в области электронного тестирования: тестирование СБИС-устройств (печатных плат и систем), аналоговых и цифровых электронных схем, микропроцессоров, устройств памяти, устройств обработки сигнала, математическое и имитационное моделирование неисправностей, формирование теста, анализ на тестопригодность, проектирование тестопригодности, синтез тестопригодности, встроенное самотестирование, тестовое техническое задание, отказоустойчивость, формальная верификация аппаратного обеспечения, имитационное моделирование верификации, устранение дефектов проекта, методы искусственного интеллекта и экспертные системы для тестирования и диагностики, автоматическое испытательное оборудование, фиксирование теста, система тестирования с помощью пучка электронов, программирование теста, анализ данных теста, экономика тестирования, качество и надежность средств автоматизированного проектирования, тестирование устройств в масштабе пластины, тестирование надежных систем, производство изделий и проектирование усовершенствования продукции, анализ состояний отказа и технологического процесса. См. : journal link (full text - НТО-3)