|
|
620.3
E50
Emerging nanotechnologies [Electronic resource] : test, defect tolerance, and reliability / ed. : M. Tehranipoor. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science + Business Media LLC, 2008. - (Frontiers in electronic testing, ISSN 0929-1296 ; 37). - ISBN 978-0-387-74747-7 : Б. ц.
Рубрики: Нанотехнологии
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Tehranipoor, M. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
|
|