|
621.3.049.77.001.2 C52
Chiang, C. Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS [Electronic resource] / C. Chiang, J. Kawa. - Electronic text data. - Dordrecht : Springer, 2006. - (Series on integrated circuits and systems, ISSN 1558-9412). - ISBN 978-1-4020-5188-3 : Б. ц.
Рубрики: Интегральные схемы--Проектирование
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Kawa, J.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
|
|