|
|
621.3.049.771.14-048.24
S11
Sachdev, M.
Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits [Electronic resource] / M. Sachdev, J. P. Gyvez. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2007. - (Frontiers in electronic testing, ISSN 0929-1296 ; 34). - ISBN 0-387-46547-2 : Б. ц.
Рубрики: Интегральные схемы большие--Технический контроль
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Gyvez, J.P.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
|
|