|
|
004.332.34
P34
Pavlov, A.
CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies [Electronic resource] : process-aware SRAM design and test / A. Pavlov, M. Sachdev. - Electronic text data. - Dordrecht : Springer, 2008. - (Frontiers in electronic testing, ISSN 0929-1296 ; 40). - ISBN 978-1-4020-8363-1 : Б. ц.
Рубрики: Запоминающие устройства с произвольной выборкой
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Sachdev, M.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
|
|