|
|
621.3.049.771.14
Stroud, C. E.
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability [Electronic resource] : материал технической информации / C. E. Stroud, N. A. Touba, L.- T. Wang . - Электрон. текстовые дан. - [Amsterdam] : Elsevier, 2007. - on-line. - Загл. с титул. экрана. - ISBN 978-0-123-73973-5 : 1962.97 р.
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Touba, N. A.; Wang, L.- T.
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
|
|