|
|
621.3.049.771.14.019.3
S81
Stanisavljevic, M.
Reliability of nanoscale circuits and systems [Electronic resource] : methodologies and circuit architectures / M. Stanisavljevic, A. Schmid, Y. Leblebici. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2011. - on-line. - Загл. с экрана. - Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы большие -- нанотехнологии -- надежность
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Schmid, A.; Leblebici, Y.
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
|
|