Шифр: W4251 (Журнал) СВЕДЕНИЯ ОБ ИЗМЕНЕНИИ ИЗДАНИЯ: Настоящее издание До 1978г. см.: Microelectronics Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- наноэлектроника -- производство полупроводниковых компонентов -- нанокомпоненты -- встроенное самотестировани Аннотация: Статьи и обзоры, отражающие новые идеи, исследования и проекты разработок, современные технологии (в т.ч. микро- и нанотехнологии) и тенденции их развития в области производства полупроводниковых компонентов и нанокомпонентов микроэлектронных устройств, нейронных сетей, а также их оценку и применение: методы проектирования аналоговых, цифровых, смешанных и радиочастотных схем; синтез на логическом, архитектурном и системном уровне; тестирование, проектирование тестопригодности, встроенное самотестирование; встроенные системы; проектирование и тестирование высокоплотной компоновки (3D и др.); проектирование и тестирование SoC (система-на-чипе), NoC(сеть-на-чипе), SIP(система-в-пакете), NIP (сеть-в-пакете); новые устройства, напр., FinFETs (полевые транзисторы "плавникового" типа), одноэлектронные транзисторы (SETs) и др.; различные аспекты применения (обработка сигналов и изображений, в т.ч. интегральные схемы для криптографии; проектирование сенсоров и актуаторов, в т.ч. сенсорных сетей; качество и надежность; экономические модели. Отдельные темы более подробно представлены в специальных выпусках. . 20131217 Зарегистрированы поступления: journal link (full text - НТО-3) |
