|
|
537.311.322
W69
Willatzen, M.
The k p method [Electronic resource] : electronic properties of semiconductors / M. Willatzen, L. C. Lew Yan Voon. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, 2009. - ISBN 978-3-540-92872-0 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- электронные свойства -- методы исследования
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Lew Yan Voon, L.C.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
|
|