Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Автор(ы) : Yokoya T., Fukushima A., Kiss T. Заглавие : Electronic structure and supercondicting gap of silicon clathrate Ba8Si46 studied with ultrahigh-resolution photoemission spectroscopy Выходные данные : Chiba: Inst. for solid state physics, Univ. of Tokyo, 2001 Колич.характеристики :4 с.: ил Серия: Techn. rep. of ISSP. Ser. A, ISSN 0082-4798; Nr 3619 Примечания : ; Библиогр. : с. 3 Цена : Б.ц. ГРНТИ : ; 29.19.29 УДК : Доп.точки доступа: Fukushima, A.; Kiss, T.