|
|
Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale [Text] : монография / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York [NY] : [s. n.], 2007. - XX, 565 p. : il. - ^aУказ.: с. 559-565. - ISBN 978-0-387-28667-9 : р2089.26 р.
Рубрики: Микроскопия электронная
Свободных экз. нет
|
|