Applied scanning probe methods [Text] : материал технической информации / ed. B. Bhushan, H. Fuchs. - Berlin [etc.] : Springer, 2006. - XLIV, 284 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - ^aБиблиогр. в конце разд. Указ.: с. 277-284. - ISBN 3-540-26912-6 : р3508.68 р. ГРНТИ ^a29.35.43 УДК ^a537.533.35 Рубрики: Микроскопия электронная Свободных экз. нет