Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар12-23109 Автор(ы) : Криницкий А.В. Заглавие : Методы и средства оценки и прогнозирования сбоеустойчивости аналоговых интегральных микросхем при воздействии отдельных ядерных частиц : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 Выходные данные : М., 2012 Колич.характеристики :26 с.: ил Примечания : Библиогр.: с. 25-26 (11 назв.) ГРНТИ : 47.33.31 УДК : 621.3.049.77:539.16(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы аналоговые--влияние ионизирующих излучений Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1)