Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар07-13877 Автор(ы) : Швамм К.Л. Заглавие : Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 Выходные данные : Екатеринбург, 2007 Колич.характеристики :22 с.: ил Примечания : Библиогр.: с. 19-22 ГРНТИ : 29.35.43 УДК : 537.533.35(043) Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1)