Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар05-1788 Автор(ы) : Тюриков А.В. Заглавие : Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.11.14, 05.11.13 Выходные данные : Ижевск, 2004 Колич.характеристики :20 с.: ил Примечания : Библиогр.: с. 19-20 (18 назв.) ГРНТИ : 29.35.43 УДК : 621.385.833.2(043) Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1)