|
|
АР90-012691
Дернятин, А. И.
Применение микроспектрофотометрии для контроля качества полупроводниковых материалов и структур твердотельной электроники [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.07 / А. И. Дернятин. - Л., 1990. - 18 с.
В надзаг. : Ленингр. ин-т точной механики и оптики. Библиогр.:с. 16-18(11 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
|
|