|
|
АР01-4451
Шелковников, Е. Ю.
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / Е. Ю. Шелковников. - Иджевск, 2000. - 20 с. : ил.
Библиогр.:с. 18-20(35 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
|
|