Ар11-13079     Велигжанин, А. А.     Развитие методов анализа структуры некристаллических и наноразмерных материалов с использованием синхротронного излучения [Текст] : автореферат дис. ... / А. А. Велигжанин. - Москва, 2011. - 22 с. - 65 экз. ГРНТИ 29.19.19 УДК 548.73(043) Кл.слова (ненормированные): структурная диагностика -- рентгеновская дифракция -- рентгеновские лучи -- поглощение -- малоугловое рассеяние Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1)