Ар11-13079
Велигжанин, А. А.
Развитие методов анализа структуры некристаллических и наноразмерных материалов с использованием синхротронного излучения [Текст] : автореферат дис. ... / А. А. Велигжанин. - Москва, 2011. - 22 с. - 65 экз.
ГРНТИ
29.19.19
УДК
548.73(043)
Кл.слова (ненормированные):
структурная диагностика
--
рентгеновская дифракция
--
рентгеновские лучи
--
поглощение
--
малоугловое рассеяние
Экземпляры всего
1: ХР (1)
Свободны:
ХР (1)