|
|
Ар09-442
Шелковников, Е. Ю.
Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.16 / Е. Ю. Шелковников. - Ижевск, 2008. - 48 с. : ил. - Библиогр.: с. 44-48(51 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
|
|