|
|
Ар07-13877
Швамм, К. Л.
Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / К. Л. Швамм. - Екатеринбург, 2007. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-22
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
|
|