Ар05-9216

    Шиляев, П. А.
    Фрактальный анализ поверхности слоев кремния, выращенных методом молекулярно-лучевого осаждения [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / П. А. Шиляев. - Н. Новгород, 2005. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 14-16

ГРНТИ
УДК


Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)